符合國家標準：GB/T19502-2004《表面化學(xué)分析-輝光放電發(fā)射光譜方法通則》、GB/T22368-2008《低合金鋼多元素含量的測定-輝光放電原子發(fā)射光譜法（常規法）》和 GB/T22462-2008《鋼表面納米、亞微米尺度薄膜元素深度分布的定量測定輝光放電原子發(fā)射光譜法》。
輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對于解決分析問(wèn)題，即使是復雜的基體，提供高分辨率和元素數量。
應用領(lǐng)域
表征微米量級的材料表面涂層/鍍層
有機膜層的涂布層
鋰電池電極多層結構
納米量級的功能多層膜（如太陽(yáng)能光伏電池、LED、硬盤(pán)、隔熱膜、光電膜等）
技術(shù)參數
項目： 數據
型號：GD-OES8000
功能方式：DC或RF
波長(cháng)范圍（nm）：120-800
光譜分辨率（nm）：18pm~25pm
深度分辨率（nm）：1~2nm
濺射速率：＞1μm/min
深度剖析的范圍：1nm~200μm
焦距（mm）：998.8
元素通道：48
探測器：光電倍增管PMT
性能特點(diǎn)
有著(zhù)較低的檢出限
能夠逐層檢測樣品表面
十幾個(gè)元素的含量通過(guò)一次檢測就能夠得到，能夠給出較大信息量
只需幾分鐘就能夠做一個(gè)樣品，有著(zhù)非?？斓臋z測速度
不需要對樣品進(jìn)行稀釋?zhuān)芙獾忍幚?，能夠直接對固體樣品進(jìn)行檢測
有非常廣泛的檢測范圍
光機電產(chǎn)品一體化整機設計
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